粒徑分析不再難！學習Zeta電位與粒徑分析儀的高效運用技巧

　　Zeta電位與粒徑分析儀是一種廣泛應用于物質表征的技術，主要原理是利用激光散射技術來測定粒子的大小和形狀。當一束激光照射到物質的表面時，粒子會散射激光，根據(jù)散射光的強度和角度可以計算出顆粒的大小。同時，該儀器還可以測量物質中顆粒的電位，即Zeta電位，這對于研究顆粒的表面電荷狀態(tài)非常重要。

　　具體來說，粒徑的測量通常采用動態(tài)光散射（DLS）原理，通過測量激光在納米顆粒中的散射角度和強度，從而得到納米顆粒的尺寸分布。而Zeta電位的測量則采用電泳技術，通過測量納米顆粒在電場作用下的遷移速度，進而得到顆粒的表面電荷性質。

　　Zeta電位與粒徑分析儀的使用技巧有很多，以下是一些關鍵的技巧：

　　一、樣品準備

　　濃度控制：確保樣品濃度在合適范圍內，一般來說，樣品測量范圍通常為1nm-6μm，濃度體積比最好≤0.5%（最好0.1%），以保證Count Rate不超過800Kcps。若濃度過高，需進行適當稀釋；若濃度過低，可能無法準確測量。

　　分散處理：待測溶液需經(jīng)過離心或過濾處理，使樣品處于充分分散的狀態(tài)，避免粒子團聚影響測量結果。

　　溶劑選擇：根據(jù)樣品的性質選擇合適的溶劑，水相用塑料比色皿，有機相用玻璃比色皿。同時，在設置測量參數(shù)時，要準確選擇或輸入溶劑的相關參數(shù)，如粘度、折光指數(shù)等。

　　溫度穩(wěn)定：將樣品放入儀器中后，需讓其在儀器中穩(wěn)定一段時間，一般約5分鐘左右，以達到溫度平衡，減少溫度波動對測量的影響。

　　二、儀器操作

　　開機預熱：打開儀器后面的開關及顯示器，再打開相應的操作軟件，選擇好保存數(shù)據(jù)的文件夾后，等待機器穩(wěn)定15-20分鐘左右后再進行測量。

　　參數(shù)設置：根據(jù)樣品的實際情況，對測量的參數(shù)進行詳細設置，包括樣品名、掃描遍數(shù)、溫度、液體類型、掃描時間等。

　　電極使用：對于Zeta電位測量，要注意正確使用電極。不同的電極適用于不同的體系，如AQ-961鈀電極用于pH為2-12的水相體系，SR-482鈀電極用于有機相體系和pH為1-13的水相體系。

　　避免干擾：測量過程中要關閉手機等可能產(chǎn)生電磁干擾的設備，保持周圍環(huán)境干凈，無外界干擾出現(xiàn)。

　　三、測量過程

　　多次測量：為了提高測量的準確性和可靠性，建議對每個樣品進行多次測量，并取平均值作為最終結果。

　　檢查數(shù)據(jù)：在測量過程中，注意觀察程序界面上的Count Rate等信息，若Count Rate小于20Kcps，則應延長測量時間；若Avg.Count Rate超過500Kcps，則需稀釋樣品濃度。

　　及時清理：實驗后及時清理樣品倉，還原所使用的附件，比色皿沖洗后可重復利用。